Bibliothèque de L'IMIST/CNRST catalogue › Détails pour : Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Autres auteurs : Agrawal,, Vishwani D. -- 1943-

Collection : . 17 Publié par : Kluwer Academic, (Boston :) Détails physiques : xviii, 690 p. : ill. ; 26 cm. ISBN :0792379918 (alk. paper).

Sujet(s) : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing. -- Testing. -- Testing. -- Testing. | Digital integrated circuits | Mixed signal circuits | Semiconductor storage devices

Année : 2000

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Includes bibliographical references (p. [631]-670) and index.

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