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Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach / par Rabinovich, Semyon G. Publication : . XVIII, 313 p. 22 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6717-5,

Exploring Science Through Science Fiction par Luokkala, Barry B. Publication : . XIX, 241 p. 27 illus., 20 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7891-1,

Transport Properties of Molecular Junctions par Zimbovskaya, Natalya A. Publication : . XIII, 338 p. 104 illus., 95 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8011-2,

Atom-Probe Tomography The Local Electrode Atom Probe / par Miller, Michael K. Publication : . XVIII, 423 p. 182 illus., 62 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-7430-3,

Surface Microscopy with Low Energy Electrons par Bauer, Ernst. Publication : . XIX, 496 p. 216 illus., 71 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-0935-3,

Ion Beams in Materials Processing and Analysis par Schmidt, Bernd. Publication : . IX, 418 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-99356-9,

Double-Gyroid-Structured Functional Materials Synthesis and Applications / par Scherer, Maik Rudolf Johann. Publication : . XXI, 198 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00354-2,

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