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Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System par Samukawa, Seiji. Publication : . VIII, 40 p. 35 illus., 30 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-4-431-54795-2,

Kinetics of Complex Plasmas par Sodha, Mahendra Singh. Publication : . XIX, 298 p. 101 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-81-322-1820-3,

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