X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Publié par : CRC/Taylor and Francis (Boca Raton ) Détails physiques : 279 pages illustrations 25 cm. ISBN :0849339286 (alk. paper).
Sujet(s) :
Semiconductors
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Design and construction
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Quality control.
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Measurement.
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Inspection.
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Diffraction.
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Integrated circuits
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Semiconductor wafers
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X-rays
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Fluroscopy
Année : 2006
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Integrated circuits
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Semiconductor wafers
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X-rays
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Fluroscopy
| Type de document | Site actuel | Cote | Statut | Date de retour prévue | Code à barres | Réservations |
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| Livre | La bibliothèque des sciences de l'ingénieur | 621.3815 BOW (Parcourir l'étagère) | Disponible | 0000000024675 |
Total des réservations: 0
Includes bibliographical references and index.
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