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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits par Liu, Xiao. Publication : . XV, 108 p. 59 illus., 38 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1,

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Exploring Memory Hierarchy Design with Emerging Memory Technologies par Sun, Guangyu. Publication : . VII, 122 p. 71 illus., 57 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00681-9,

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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs par Noia, Brandon. Publication : . XVIII, 245 p. 133 illus., 115 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02378-6,

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