Catalogue Bibliothèque de L'IMIST/CNRST › Résultats de la recherche pour 'ccl=su:Semiconductors and su-to:Engineering'

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		Interlayer dielectrics for semiconductor technologies / Publication : . 1 online resource (xiv, 444 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125112215, Ajouter au panier (Supprimer)
		Silicon germanium materials and devices : a market and technology overview to 2006 / par Szweda, Roy. Publication : . 1 online resource (xvi, 402 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9781856173964, Ajouter au panier (Supprimer)
		Principles of semiconductor network testing / par Afshar, Amir. Publication : . 1 online resource (xiv, 213 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750694728, Ajouter au panier (Supprimer)
		Optical diagnostics for thin film processing / par Herman, Irving P. Publication : . 1 online resource (xxix, 783 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123420701, Ajouter au panier (Supprimer)
		Frontiers of thin film technology / Publication : . 1 online resource (xiii, 476 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125330282, Ajouter au panier (Supprimer)
		Zinc oxide bulk, thin films and nanostructures : processing, properties and applications / Publication : . 1 online resource (ix, 589 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080447223, Ajouter au panier (Supprimer)
		Gallium arsenide electronic materials and devices : a market and technology overview, 1999-2004. par Szweda, Roy. Publication : . 1 online resource (xv, 410 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9781856173643, Ajouter au panier (Supprimer)
		Gallium nitride and related wide bandgap materials and devices : a market and technology overview 1998-2003 / par Szweda, Roy. Publication : . 1 online resource (xii, 446 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9781856173636, Ajouter au panier (Supprimer)
		Rapid thermal processing for future semiconductor devices : proceedings of the 2001 International Conference on Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices (RTP 2001), held at Ise-Shima, Mie, Japan, November 14-16, 2001 / Publication : . 1 online resource (x, 150 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444513397, Ajouter au panier (Supprimer)
		Dilute nitride semiconductors / par Henini, Mohamed. Publication : . 1 online resource (xvii, 630 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080445021, Ajouter au panier (Supprimer)
		Principles of physical vapor deposition of thin films / par SreeHarsha, K. S. Publication : . 1 online resource (xi, 1160 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080446998, Ajouter au panier (Supprimer)
		Materials science of thin films : deposition and structure / par Ohring, Milton, Publication : . 1 online resource (xxi, 794 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125249751, Ajouter au panier (Supprimer)
		Advances in research and development : heterojunctions for high-speed and infrared applications / Publication : . 1 online resource (xiii, 313 pages) : Disponibilité : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125330237, Ajouter au panier (Supprimer)
		Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems Publication : . XIV, 335 p. 132 illus., 51 illus. in color. Disponibilité : http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4193-9, Ajouter au panier (Supprimer)
		Handbook of Gas Sensor Materials Properties, Advantages and Shortcomings for Applications Volume 1: Conventional Approaches / par Korotcenkov, Ghenadii. Publication : . XIX, 442 p. 220 illus. Disponibilité : http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7165-3, Ajouter au panier (Supprimer)
		Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Publication : . XI, 810 p. 601 illus., 318 illus. in color. Disponibilité : http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3, Ajouter au panier (Supprimer)
		Solid-State Electronic Devices An Introduction / par Papadopoulos, Christo. Publication : . XIII, 277 p. 151 illus., 45 illus. in color. Disponibilité : http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8836-1, Ajouter au panier (Supprimer)
		Integration of Functional Oxides with Semiconductors par Demkov, Alexander A. Publication : . X, 278 p. 146 illus., 113 illus. in color. Disponibilité : http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-9320-4, Ajouter au panier (Supprimer)
		Design Exploration of Emerging Nano-scale Non-volatile Memory par Yu, Hao. Publication : . X, 192 p. 377 illus. Disponibilité : http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-0551-5, Ajouter au panier (Supprimer)
		Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits par Liu, Xiao. Publication : . XV, 108 p. 59 illus., 38 illus. in color. Disponibilité : http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1, Ajouter au panier (Supprimer)

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