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Atom-Probe Tomography The Local Electrode Atom Probe / par Miller, Michael K. Publication : . XVIII, 423 p. 182 illus., 62 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-7430-3,

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Surface Microscopy with Low Energy Electrons par Bauer, Ernst. Publication : . XIX, 496 p. 216 illus., 71 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-0935-3,

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Optical Properties of Bismuth-Based Topological Insulators par Di Pietro, Paola. Publication : . X, 119 p. 78 illus., 36 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-01991-8,

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Electrical, Electronic and Magnetic Properties of Solids par Sirdeshmukh, D. B. Publication : . XVII, 508 p. 355 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-09985-9,

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Transition-Metal Defects in Silicon New Insights from Photoluminescence Studies of Highly Enriched 28Si / par Steger, Michael. Publication : . XII, 97 p. 35 illus., 18 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35079-5,

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Thermal Properties of Solids at Room and Cryogenic Temperatures par Ventura, Guglielmo. Publication : . XI, 216 p. 104 illus., 3 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-8969-1,

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Symmetry and Physical Properties of Crystals par Malgrange, Cécile. Publication : . XXV, 522 p. 247 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-8993-6,

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