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Surface Microscopy with Low Energy Electrons par Bauer, Ernst. Publication : . XIX, 496 p. 216 illus., 71 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-0935-3,

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Introduction to Thin Film Transistors Physics and Technology of TFTs / par Brotherton, S.D. Publication : . XV, 488 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00002-2,

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Optical Properties of Bismuth-Based Topological Insulators par Di Pietro, Paola. Publication : . X, 119 p. 78 illus., 36 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-01991-8,

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Particle Penetration and Radiation Effects Volume 2 Penetration of Atomic and Molecular Ions / par Sigmund, Peter. Publication : . XXIX, 603 p. 286 illus., 97 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-05564-0,

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Multilayer Integrated Film Bulk Acoustic Resonators par Zhang, Yafei. Publication : . X, 154 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31776-7,

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