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Multi-scale Analysis for Random Quantum Systems with Interaction par Chulaevsky, Victor. Publication : . XI, 238 p. 5 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8226-0,

Atom-Probe Tomography The Local Electrode Atom Probe / par Miller, Michael K. Publication : . XVIII, 423 p. 182 illus., 62 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-7430-3,

Surface Microscopy with Low Energy Electrons par Bauer, Ernst. Publication : . XIX, 496 p. 216 illus., 71 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-0935-3,

Transition-Metal Defects in Silicon New Insights from Photoluminescence Studies of Highly Enriched 28Si / par Steger, Michael. Publication : . XII, 97 p. 35 illus., 18 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35079-5,

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