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High-Dynamic-Range (HDR) Vision par Hoefflinger, Bernd. Publication : Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2007 . 1 online resource. , Titre de l'écran-titre (visionné le 2 juillet 2008). Date : 2007 Disponibilité : Exemplaires disponibles: La bibliothèque des sciences de l'ingénieur (1),

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Advanced Materials for Integrated Optical Waveguides par Tong Ph.D, Xingcun Colin. Publication : . XXVII, 552 p. 124 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-01550-7,

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High-Performance D/A-Converters Application to Digital Transceivers / par Clara, Martin. Publication : . XXII, 286 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31229-8,

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Delta-Sigma A/D-Converters Practical Design for Communication Systems / par Gaggl, Richard. Publication : . XVIII, 146 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34543-2,

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Analog Filters in Nanometer CMOS par Uhrmann, Heimo. Publication : . XII, 166 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38013-6,

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Load-Pull Techniques with Applications to Power Amplifier Design par Ghannouchi, Fadhel M. Publication : . XIV, 234 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-4461-5,

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Inside Solid State Drives (SSDs) par Micheloni, Rino. Publication : . XVIII, 382 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-5146-0,

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Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization / par Richter, Detlev. Publication : . XXIV, 268 p. 185 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6082-0,

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Variation-Aware Adaptive Voltage Scaling for Digital CMOS Circuits par Wirnshofer, Martin. Publication : . XI, 83 p. 53 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6196-4,

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High Mobility and Quantum Well Transistors Design and TCAD Simulation / par Hellings, Geert. Publication : . XVIII, 140 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6340-1,

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Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS Sensors par Gonzalez Ruiz, Pilar. Publication : . XVI, 199 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6799-7,

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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications par Franco, Jacopo. Publication : . XIX, 187 p. 219 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0,

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Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS Circuits and Algorithms / par Zjajo, Amir. Publication : . XIX, 192 p. 46 illus. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-7781-1,

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