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Neutron and x-ray microscopy. Part 1 /

Autres auteurs : Cremer, Jay Theodore, -- Jr.
Collection : Advances in imaging and electron physics ; . v. 172 Mention d'édition :1st ed. Détails physiques : 1 online resource. ISBN :9780123978141 (electronic bk.); 0123978149 (electronic bk.); 9780123944221 (electronic bk.); 0123944228 (electronic bk.).
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Exemplaires : http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123944221

Title from PDF title page (viewed on July 27, 2012).

Includes bibliographical references and index.

This special volume of Advances in Imaging and Electron Physics details the current theory, experiments, and applications of neutron and x-ray optics and microscopy for an international readership across varying backgrounds and disciplines. Edited by Dr. Ted Cremer, these volumes attempt to provide rapid assimilation of the presented topics that include neutron and x-ray scatter, refraction, diffraction, and reflection and their potential application. Key features: * Contributions from leading authorities * Informs and updates on all the latest developments in the field.

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