IMIST


Vue normale Vue MARC vue ISBD

Représentation quadratique à sélectivité adaptative des images numériques avec applications au débruitage et rehaussement du contraste

par El Aallaoui , Mohamed Publié par : Université Chouaib Doukkali, Faculté des Sciences ( El Jadida) Année : 2008
Tags de cette bibliothèque : Pas de tags pour ce titre. Connectez-vous pour ajouter des tags.
    Évaluation moyenne : 0.0 (0 votes)
Type de document Site actuel Cote Statut Date de retour prévue Code à barres Réservations
Thèse universitaire La bibliothèque des Sciences Exactes et Naturelles
TH-519 AAL (Parcourir l'étagère) Disponible 0000000008591
Total des réservations: 0

Sous format papier

Université Chouaib Doukkali

Dans ce travail nous avons étudié en détail l’ionisation des ions multichargés par impact d’électrons. Nous nous sommes intéressés particulièrement au cas des ions de la série isonucléaire du Néon (Ne⁴⁺, Ne⁵⁺, Ne⁶⁺, Ne⁷⁺). Pour cela, nous avons utilisé un appareillage mettant en œuvre la méthode des faisceaux (ioniques et électroniques) croisés et animés (méthode de balayage). Les différentes contributions à l’ionisation, telles que celles des électrons de valence, des couches internes et celle des processus indirects ont été observées et quantifiées. Nous avons également étudié la compétition entre les deux mécanismes antagonistes qui régissent la disparition des états doublement excités : la désexcitation radiative qui inhibe l’ionisation et l’autoionisation qui la favorise. Dans cette optique nous avons défini et évalué le rapport du branchement global qui permet de se faire une idée précise sur l’importance de l’autoionisation. Nous avons procédé aux mises au point et aux tests d’une spectrométrie à électrons qui a été adjoint à l’appareillage dans le but d’analyser en détail les processus indirects d’ionisation. Les tests préliminaires ont porté sur l’étude d’un cas de détachement collisionnel (stripping de l’ion Ar⁶⁺ sur une cible d’argon) processus qui conduit aux mêmes produits de réaction que l’ionisation par impact d’électrons.

Il n'y a pas de commentaire pour ce document.

pour proposer un commentaire.
© Tous droits résérvés IMIST/CNRST
Angle Av. Allal Al Fassi et Av. des FAR, Hay Ryad, BP 8027, 10102 Rabat, Maroc
Tél:(+212) 05 37.56.98.00
CNRST / IMIST

Propulsé par Koha