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Helium Ion Microscopy Principles and Applications / par Joy, David C. Publication : . VIII, 64 p. 29 illus., 16 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2,

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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / par Goldstein, Joseph, Publication : . xxiii, 550 pages : , Previous edition: New York: Plenum Press, 2003. 28 cm. Disponibilité : Exemplaires disponibles: La bibliothèque des Sciences Exactes et Naturelles (1),

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