IMIST


Votre recherche a retourné 10 résultats.

Helium Ion Microscopy Principles and Applications / par Joy, David C. Publication : . VIII, 64 p. 29 illus., 16 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2,

Local Electrode Atom Probe Tomography A User's Guide / par Larson, David J. Publication : . XVII, 318 p. 164 illus., 54 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8721-0,

Charge Dynamics in 122 Iron-Based Superconductors par Charnukha, Aliaksei. Publication : . XI, 130 p. 43 illus., 24 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-01192-9,

Ferroelectric Domain Walls Statics, Dynamics, and Functionalities Revealed by Atomic Force Microscopy / par Guyonnet, Jill. Publication : . XV, 159 p. 96 illus., 17 illus. in color. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-05750-7,

Theory of Bilayer Graphene Spectroscopy par Mucha-Kruczyński, Marcin. Publication : . X, 86 p. Disponibilité :  http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-30936-6,

Vous ne trouvez pas ce que vous cherchez ?
© Tous droits résérvés IMIST/CNRST
Angle Av. Allal Al Fassi et Av. des FAR, Hay Ryad, BP 8027, 10102 Rabat, Maroc
Tél:(+212) 05 37.56.98.00
CNRST / IMIST

Propulsé par Koha